倒装晶片的组装焊接完成之后的检查

[09-12 18:50:02]   来源:http://www.88dzw.com  PCB设计   阅读:8330

文章摘要:焊接完成之后我们可以对产品进行一些非破坏性的检查,譬如,利用X射线检焊点是否桥连、开路,焊点内是 否有空洞,以及润湿情况,还可以进行电气测试。由于此时还未完成底部填充,不便进行机械测试和热循环及老 化测试。由于倒装晶片焊点在元件的下面,直接检查非常困难,利用X射线检查仪能够观察到一些焊接缺陷:可以观察到焊接过程中倒装晶片具有非常好的“自对中性”,在氮气焊接环境中尤其突出。如图1和图2所示。 图1 焊接之前有—定偏移 图2 焊接之后元件被“拉正”可以观察到焊接表面的

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  焊接完成之后我们可以对产品进行一些非破坏性的检查,譬如,利用X射线检焊点是否桥连、开路,焊点内是 否有空洞,以及润湿情况,还可以进行电气测试。由于此时还未完成底部填充,不便进行机械测试和热循环及老 化测试。

  由于倒装晶片焊点在元件的下面,直接检查非常困难,利用X射线检查仪能够观察到一些焊接缺陷:

  可以观察到焊接过程中倒装晶片具有非常好的“自对中性”,在氮气焊接环境中尤其突出。如图1和图2所示。

                          
  图1 焊接之前有—定偏移                                         图2 焊接之后元件被“拉正”

  可以观察到焊接表面的润湿情况,如图3和图4所示。

                  
  图3 润湿及塌陷良好                                                                图4 焊球与焊盘有偏移但润湿良好

  可以观察到焊点焊接不完整,焊点开路,如图5所示。


图5 焊点开路

  还可以检查焊点内是否有空洞,如图6所示。


图6 焊点中的空洞

  当然也可以对焊点进行切片检查其内部润湿和坍塌情况,以及量测元件离板高度,还可以结合金相显微镜或电 子扫描显微镜(SEM)检查焊点微结构,但这些检查建议在完成底部填充后进行,以免错失一些缺陷。如图7、图 8和图9所示。

                            

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