共模反馈环路稳定性分析及电路设计
[11-20 00:53:18] 来源:http://www.88dzw.com 集成电路 阅读:8552次
文章摘要:即可保证共模外环的稳定。联系式(3)、(5)、(1 0),可以得到该拓扑结构共模环路的稳定条件如下:(1)运放的差模开环稳定;(2)AFB(0)、Ab(0)与A1(0)满足相位相差180°、绝对值近似相等:(3)共模反馈额外引入的极点不影响环路带宽。基于上述条件可见,共模环路无需额外补偿。由于整个运放仅额外引入运放AFB,因此成本低、设计简单,且共模内环带宽与差模开环相等、增益相近,故能满足共模反馈设计要点(2)、(3)、(4)。2低成本高稳定的共模反馈电路图3是本文所设计的两级全差分运放电路。该电路的共模反馈部分结构新颖、成本低、匹配好,基于图2的拓扑结构,可满足本文提出的稳定条件。图3中,
共模反馈环路稳定性分析及电路设计,标签:集成电路设计,半导体集成电路,http://www.88dzw.com即可保证共模外环的稳定。
联系式(3)、(5)、(1 0),可以得到该拓扑结构共模环路的稳定条件如下:
(1)运放的差模开环稳定;
(2)AFB(0)、Ab(0)与A1(0)满足相位相差180°、绝对值近似相等:
(3)共模反馈额外引入的极点不影响环路带宽。
基于上述条件可见,共模环路无需额外补偿。由于整个运放仅额外引入运放AFB,因此成本低、设计简单,且共模内环带宽与差模开环相等、增益相近,故能满足共模反馈设计要点(2)、(3)、(4)。
2低成本高稳定的共模反馈电路
图3是本文所设计的两级全差分运放电路。该电路的共模反馈部分结构新颖、成本低、匹配好,基于图2的拓扑结构,可满足本文提出的稳定条件。图3中,Iref为基准电流,两级运放采用RZ和Cc组成密勒补偿,来满足稳定条件(1)。为了减小失调,运放的第一级和共模反馈运放采用三极管(Q1~Q4)作为输入对管。
电路中的Ml、M2分别与Ql、Q2并联,其栅极信号Vb2随电源电压的升高而升高,其作用相当于在输入级增加两个比较器。正常工作时,M1、M2关断,Ql、Q2处理信号,而在电源电压较低(启动时)以及输入信号的共模电平高于Vb2比时,Q1、Q2关断,M1、M2线性导通,以稳定环路各级共模电平。从而有效避免了电路启动过程锁死状态的出现,满足了设计要点(5)。
共模检测电路由电阻Rcs并联Ccs来完成。引人后者的目的是在高频时既可旁路电阻的寄生电容,又可产生一个零点。以阻止共模增益的降低,从而满足设计要点(1)。
共模反馈运放在Q3、Q4、M10、Mll组成的普通电流镜结构基础上,还额外增加了Q5和M9两个器件。Q5作为射随器可将原电流镜结构中的高阻、大电容输出结点分隔为C、D两点。分隔后,相对于两级运放的主、次极点A、B,D点,其电容减小(仅有寄生电容),而C点阻抗减小(连接Q5的射极),所以,C、D两处极点均不影响环路带宽,可满足稳定条件(3)。接着比较两者的增益,其差模第一级增益为:
联系式(11)、(15)、(16)可见,只需Q1~Q4,M3、M4、M9、M11以及M12~M15尺寸对应
在式(11)~(17)中,rA、rC、VA、VC分别为结点A、C处的小信号电阻值和电压值。
式(17)表明共模环路增益与差模开环增益绝对值近似相等、相位相差180°,可满足稳定条件(2)。由此,本电路已可同时满足本文提出的3个稳定条件以及5个共模反馈设计要点。
传统的共模反馈运放一般采用电流镜和二极管作为负载。即使严格按照稳定条件进行设计,由于电路的不匹配(共模反馈运放的结构、尺寸与差模第一级不相同),将导致器件的短沟道效应相异、工艺失配的差异较大,从而使得共模内环与差模开环的增益不可避免的存在偏差,因此,传统电路不能很好的满足稳定条件。
而本文提出的共模反馈运放电路匹配高、版图匹配容易。由式(15)可知,运放的右半电路几乎不影响运放的增益,且对C处偏置电压的影响也较小(受Q5和M9组成的负反馈作用)。所以,在平衡条件下,右半部分器件的短沟道效应及工艺失配带来的影响可以忽略。而运放的左半边电路以及尾电流源与差模第一级对应匹配,因而其短沟道效应也相近。因此只需使这部分器件的版图采用对称放置来设计,即可使它们的工艺匹配良好,从而确保电路严格满足稳定条件。
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