基于FPGA的2M误码测试仪设计
[09-12 18:26:25] 来源:http://www.88dzw.com EDA/PLD 阅读:8553次
文章摘要:4 结束语本文所介绍的误码测试系统采用以大规模现场可编程逻辑器件FPGA及外围接口芯片构成,文中详细介绍了系统硬件架构中EI接口电路以及FPGA内核中序列发生模块和序列接收模块中核心内容的设计方法,并给出了部分模块的仿真波形。整个误码测试系统仪器结构紧凑。实验表明,该系统在线检测的速度和稳定度方面都有大的提高。上一页 [1] [2] [3] [4]
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本文所介绍的误码测试系统采用以大规模现场可编程逻辑器件FPGA及外围接口芯片构成,文中详细介绍了系统硬件架构中EI接口电路以及FPGA内核中序列发生模块和序列接收模块中核心内容的设计方法,并给出了部分模块的仿真波形。整个误码测试系统仪器结构紧凑。实验表明,该系统在线检测的速度和稳定度方面都有大的提高。
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