厦新A6+型手机翻盖失灵

文章摘要： 与故障有关的手机翻盖控制电路如图所示.用户反映,该机是在正常使用中出现该故障的.由原理图可知,该机的翻盖控制电路由R703上拉电阻、C700抗干扰电容、V701压敏电阻、RD700翻盖控制芯片组成.静态时用万用表检查上述元件,发现V701(AVLCS02200)压敏电阻存在漏电.将其更换后故障排除.

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   与故障有关的手机翻盖控制电路如图所示.用户反映,该机是在正常使用中出现该故障的.由原理图可知,该机的翻盖控制电路由R703上拉电阻、C700抗干扰电容、V701压敏电阻、RD700翻盖控制芯片组成.静态时用万用表检查上述元件,发现V701(AVLCS02200)压敏电阻存在漏电.将其更换后故障排除.