基于故障重现的单片机系统设计

文章摘要： 实验结果 在设计该单片机系统以前，曾用一单片机最小应用系统做效应实验，结果只能观察到死机现象。而将该系统用于效应实验后，观察到了硬件损坏、A／D转换误差增大、内存数据改变、程序跳转、死机、CTC工作失误、串口通讯出错和程序存储器E2PROM内容被改写等多种故障现象。通过大量、反复地实验，测出了各种故障出现的阈值，分析了故障出现的原因。图4是示波器记录下的串口RXD引脚上的正常信号和通讯出错时的干扰波形。图4表明，RXD上有很强的干扰信号，而且低电平被展宽了3～4倍。根据实验数据及串口工作原理，得出申行通讯出错的原因有两个：1．干扰使SIO电路工作失误，如串口控制寄存器SCON内容改变，发送

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实验结果

在设计该单片机系统以前，曾用一单片机最小应用系统做效应实验，结果只能观察到死机现象。而将该系统用于效应实验后，观察到了硬件损坏、A／D转换误差增大、内存数据改变、程序跳转、死机、CTC工作失误、串口通讯出错和程序存储器E2PROM内容被改写等多种故障现象。通过大量、反复地实验，测出了各种故障出现的阈值，分析了故障出现的原因。

图4是示波器记录下的串口RXD引脚上的正常信号和通讯出错时的干扰波形。图4表明，RXD上有很强的干扰信号，而且低电平被展宽了3～4倍。根据实验数据及串口工作原理，得出申行通讯出错的原因有两个：1．干扰使SIO电路工作失误，如串口控制寄存器SCON内容改变，发送或接收SBUF内容改变等，这些都可能引起接收数据和发送数据不符，从而使通讯出错；2．RXD线上的干扰信号使串行数据发生混乱，从而使接收数据出错。

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